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J-GLOBAL ID：200902009591819762   整理番号：92A0437202

VLSIにおけるビルトインセルフテスト技術の動向

Built-in Self-Test Techniques for VLSI.

著者 (1件)： 徳田健 (三菱電機 LSI研)
資料名： 電子情報通信学会誌  (Journal of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
巻： 75  号： 5  ページ： 477-479  発行年： 1992年05月 
JST資料番号： F0019A  ISSN： 0913-5693  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ビルトインセルフテスト(BIST)はテストパターンの発生手段...

シソーラス用語： 超LSI ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y)

引用文献 (6件)：

• GELSINGER, P. Built In self Test of the 80386. Proc. of ICCD-86. 1986, 169-173
• KUBAN, J. The MC 6804P2 Built-in Self Test. Proc. of 1983 ITC. 1983, 295-300
• YAMAGUCHI, N. A Self-testing Method for Modular Structured Logic VLSIs. Proc. of ICCAD-84. 1984, 99-101
• SAKASHITA, N. Built-In Self-Test in A 24 bit Floating Point Digital Signal Processor. Proc. of 1990 ITC. 1990, 880-885
• OHSAWA, T. A 60 ns 4 Mb CMOS DRAM with Built-in Self-Test. 1987 ISSCC. 1987, 286-287

タイトルに関連する用語 (2件)： VLSI ,  動向