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J-GLOBAL ID：200902040440409869   整理番号：83A0441804

半導体部品の抜取検査における平均出検品質(AOQ)

Durchschnittliche Lieferqualitaet bei stichprobengeprueften Halbleiterbauelementen.
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WURNIK F M

WURNIK F M について

(Siemens AG, FRG)

Siemens AG, FRG について


資料名：
QZ (Qualitaet und Zuverlaessigkeit)  (QZ (Qualitaet und Zuverlaessigkeit))

QZ (Qualitaet und Zuverlaessigkeit) について


巻： 28  号： 5  ページ： 133-136  発行年： 1983年05月 
JST資料番号： A0695A  ISSN： 0720-1214  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： ドイツ語 (DE)
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半導体

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品質検査 
(KB04020L)

品質検査 について

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