文献

J-GLOBAL ID：200902219774679425   整理番号：04A0273675

BIST用一括プローブ・カードの開発

Development of full wafer contact probe card for BIST

著者 (3件)： 石川貴治 (アドバンテスト DI事業本部 DIテクノロジー開発部) ,  黒鳥文夫 (アドバンテスト DI事業本部 DIテクノロジー開発部) ,  斎藤忠男 (アドバンテスト DI事業本部 DIテクノロジー開発部)
資料名： Probo  (Probo)
号： 22  ページ： 27-30  発行年： 2004年03月19日 
JST資料番号： L1550A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： フラッシュ・メモリの前工程試験におけるTest soluti...

シソーラス用語： フラッシュメモリ ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： BIST ,  プローブ ,  カード ,  開発