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J-GLOBAL ID：200902253926319393   整理番号：09A0043096

PEDOT:PSSの熱劣化機構

Thermal degradation mechanisms of PEDOT:PSS

著者 (8件)： VITORATOS E. (Dep. of Physics, Univ. of Patras, 265 00 Patras, GRC) ,  SAKKOPOULOS S. (Dep. of Physics, Univ. of Patras, 265 00 Patras, GRC) ,  DALAS E. (Dep. of Chemistry, Univ. of Patras, 265 00 Patras, GRC) ,  PALIATSAS N. (Dep. of Physics, Univ. of Patras, 265 00 Patras, GRC) ,  KARAGEORGOPOULOS D. (Dep. of Physics, Univ. of Patras, 265 00 Patras, GRC) ,  PETRAKI F. (Dep. of Chemical Engineering, Univ. of Patras, 265 00 Patras, GRC) ,  KENNOU S. (Dep. of Chemical Engineering, Univ. of Patras, 265 00 Patras, GRC) ,  CHOULIS S.a. (Dep. of Mechanical Engineering and Materials Sci. and Engineering, Cyprus Univ. of Technol., 3603 Limassol, Cyprus)
資料名： Organic Electronics  (Organic Electronics)
巻： 10  号： 1  ページ： 61-66  発行年： 2009年02月 
JST資料番号： W1352A  ISSN： 1566-1199  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 厚さ50nmのPEDOT:PSS薄膜の熱安定性をdc伝導度,X線およびUV光電子分光により加熱温度と加熱時間の関数として測定した。温度の関数としての電気伝導機構はホッピング型のキャリア輸送と合致する。電気伝導率は時間の関数として減少し,粒状金属型構造と一致し,劣化がPEDOT伝導粒子の収縮による。XPSとUPSスペクトルによるとPEDOT:PSS薄膜の立体配座変化がこれらの挙動の原因であり,これらの変化に対するモデルを提出した。Copyright 2009 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *ポリエチレンジオキシチオフェン ,  *ポリスチレンスルホン酸 ,  ポリマブレンド ,  高分子薄膜 ,  *電気伝導率 ,  *加熱 ,  温度依存性 ,  時間依存性 ,  加熱温度 ,  *劣化 ,  ホッピング伝導 ,  収縮 ,  X線光電子スペクトル ,  紫外光電子スペクトル ,  立体配座 ,  *配座転移

分類 (2件)： 高分子固体の物理的性質  (CG02024U) ,  有機化合物の電気伝導  (BM03045F)

タイトルに関連する用語 (3件)： PEDOT ,  PSS ,  熱劣化