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J-GLOBAL ID：200902279071676966   整理番号：08A0420127

土壌汚染対策の最新動向と調査・浄化法 JIS K0470に準拠した小型蛍光X線分析装置による土壌の簡易迅速分析

著者 (1件)： 永井宏樹 (アワーズテック)
資料名： 月刊産業と環境  (産業と環境)
巻： 37  号： 4  ページ： 95-96  発行年： 2008年04月01日 
JST資料番号： S0991A  ISSN： 0285-5380  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 鉛とカドミウム分析における蛍光X線分析技術を利用した現場型土壌分析装置OURSTEX160シリーズについて紹介した。本装置はSDD(シリコンドリフト)検出器を採用し,高分解・高スループット分析が可能で高感度である。さらに,砒素と鉛を分離できるように自動補正が可能で,二次フィルター補正で鉄による影響を少なくして鉛の低濃度領域での精度を向上し,JIS K0470に準拠した簡易分析に最適な装置になっている。操作は,測定ボタンをクリックするだけで,閾値による判定,定量値,標準偏差がPCに表示・保存される。検出限界はCr,Pb,As,Hg,Se,Cdで数m/oレベルで土対法含有量基準をクリアし,Fe,Cu,Zn,Caなどその他元素や硫黄,塩素分析にも活用でき,環境分析への貢献が期待できる。

シソーラス用語： *土壌汚染 ,  蛍光X線分析 ,  迅速分析 ,  鉛 ,  カドミウム ,  *分析機器 ,  *重金属 ,  重金属汚染 ,  現場試験

分類 (3件)： 計測機器一般  (AD02000X) ,  土壌汚染  (FB04100T) ,  重金属とその化合物一般  (SB05021R)

引用文献 (2件)：

• 永井宏樹“産業と環境”9月号 P75-76(2006)
• 中井泉編著“蛍光X線分析の実際”朝倉書店、13章P172-173 (2005年10月出版)

タイトルに関連する用語 (9件)： 土壌汚染対策 ,  最新動向 ,  調査 ,  浄化法 ,  JIS ,  蛍光X線分析装置 ,  土壌 ,  簡易 ,  迅速分析