抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
新しい方法論とアルゴリズムは,プロセッサの通常運転,その性能にほとんど又は全く影響を与えないと同時にオンチップメモリを試験のために提示した。試験アルゴリズムは,メモリアクセスの短いバーストを用い,記憶内容を破壊しなかった。本論文では,レベル1キャッシュSRAMと密結合メモリ(TCMs)のオンライン試験を可能にするARM皮質M7マイクロプロセッサにおけるメモリ内蔵自己テスト(MBIST)方法論の実施を述べた。スピードとプロセッサ上で走るソフトウェアから自律的にメモリを試験するためのアルゴリズムを実行できることを述べ,ARM標準MBIST界面を経由するプログラマブルMBISTコントローラ。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】