文献

J-GLOBAL ID：201602257901124763   整理番号：16A0676012

CMOSトランジスタの広帯域モデル化のためのハイブリッドパッド線フィンガーデエンベッディング法【Powered by NICT】

A Hybrid Pad-Line-Finger De-Embedding Technique for Broadband Modeling of CMOS Transistor

著者 (5件)： Loo X. S. (GLOBALFOUNDRIES Singapore Pte Ltd, Singapore) ,  Chew K. W. J. (GLOBALFOUNDRIES Singapore Pte Ltd, Singapore) ,  Yeo K. S. (Singapore University of Technology & Design, Singapore) ,  Win M. Z. (Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, USA) ,  Boon C. C. (Nanyang Technological University, Singapore)
資料名： IEEE Microwave and Wireless Components Letters  (IEEE Microwave and Wireless Components Letters)
巻： 26  号： 7  ページ： 507-509  発行年： 2016年 
JST資料番号： W0099A  ISSN： 1531-1309  CODEN： IMWCBJ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： CMOSトランジスタの正確な広帯域モデリングのための本論文で提示したハイブリッドカスケード直列-並列基づくディエンベディング技術。具体的には,それは,不正確な集中仮定なし線とパッド寄生素子を抽出するPAD線テスト構造のユニークなセットに依存している。くし形指寄生の更なる除去に使用されている付加的指開放短構造。他と比較して,金属フィンガー寄生効果を考慮して,金属相互接続とパッドの分散効果が可能である。提案したディエンベディング法を100GHzまでのNMOS素子のRFパラメータで検証した。金属フィンガまでの固定具の寄生成分の除去において従来のディエンベディング手法と従来の研究よりもより物理的であることを示した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： テスト構造 ,  NMOS構造 ,  *モデリング ,  櫛形 ,  固定具 ,  *パッド ,  相互接続 ,  *広帯域
準シソーラス用語： 寄生効果 ,  寄生要素 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 増幅回路  (NC05040U) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： CMOSトランジスタ ,  広帯域 ,  モデル化 ,  パッド