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J-GLOBAL ID：201602284499007516   整理番号：16A0539262

Bi_0.92-xHo_0.08Ca_xFe_0.97Mn_0.03O₃薄膜の構造およびマルチフェロイック特性

Structural and multiferroic properties of Bi_0.92- Ho_0.08Ca Fe_0.97Mn_0.03O₃ thin film

著者 (5件)： Ye Wei (School of Materials Science and Engineering, Shaanxi University of Science & Technology, Xi’an, Shaanxi 710021, China) ,  Tan Guoqiang (School of Materials Science and Engineering, Shaanxi University of Science & Technology, Xi’an, Shaanxi 710021, China) ,  Yan Xia (School of Materials Science and Engineering, Shaanxi University of Science & Technology, Xi’an, Shaanxi 710021, China) ,  Ren Huijun (School of Materials Science and Engineering, Shaanxi University of Science & Technology, Xi’an, Shaanxi 710021, China) ,  Xia Ao (School of Materials Science and Engineering, Shaanxi University of Science & Technology, Xi’an, Shaanxi 710021, China)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 42  号： 1 PA  ページ： 481-489  発行年： 2016年01月 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 化学溶液堆積法を用い,FTO/ガラス基板上にBi_0.92-xHo_0.08Ca_xFe_0.97Mn_0.03O₃(BHC_xFMO)薄膜を堆積した。X線回折によって結晶構造を解析し,Rietveld精密化およびRamanスペクトルにより,共ドーピングに伴う菱面体晶R3c:Hから三斜晶P1への構造相転移が明らかになった。Bi³⁺サイトへのCa²⁺ドーピングによる電荷中性化のため,Ca含有量の増加と共にBHC_xFMO薄膜中の酸素空孔濃度が増加したことが,X線光電子分光法により確認された。誘電応答の周波数依存性から,電子/ドメインよりもむしろ電荷欠陥の双極子がBHC_xFMO膜のε_rおよびtanδに寄与していることが示唆された。共ドープ薄膜の中で,BHC₁FMO薄膜は,巨大な残留分極値(P_r~88.18μC/cm²)の高度に向上した強誘電特性を示した。これは,高電場における低い漏れ電流に起因し,絶縁破壊特性および構造相転移が改良された。さらに,BHC₁FMO薄膜はBFO薄膜と比べて向上した磁化(M_s=3.35emu/cm³)を示した。これは,構造相転移によるFe-O-Fe結合角の混乱から生じた反強磁性的に規則化した隣接した面の螺旋スピン構造の抑制および/または傾斜角の改良に起因した。(Ca,Ho,Mn)共ドーピングはFe-O結合の構造歪を顕著に誘導し,Fe-Oの結合長およびFe-O-Feの結合角の変化の原因となることが,Raman結果からさらに確認された。Copyright 2016 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *強磁性 ,  *強誘電性 ,  ビスマス化合物 ,  フェライト ,  *鉄化合物 ,  ホルミウム化合物 ,  カルシウム化合物 ,  マンガン化合物 ,  添加物効果 ,  薄膜成長 ,  溶液成長 ,  *微細構造 ,  結晶構造 ,  構造相転移 ,  格子定数 ,  格子歪 ,  三方晶系 ,  三斜晶系 ,  Rietveld法 ,  空格子点 ,  周波数依存性 ,  残留分極 ,  漏れ電流 ,  絶縁破壊 ,  飽和磁化 ,  結合角 ,  核間距離 ,  X線回折分析 ,  Ramanスペクトル ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： *マルチフェロイック化合物 ,  ビスマスフェライト ,  化学溶液堆積 ,  微細組織 ,  菱面体晶系 ,  酸素空孔 ,  誘電応答 ,  電荷欠陥 ,  結合長 ,  走査電子顕微鏡法

著者キーワード (4件)： BiFeO₃ thin film ,  Co-doped ,  Structural transformation ,  Chemical solution deposition

分類 (2件)： セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V) ,  セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 薄膜 ,  マルチフェロイック