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J-GLOBAL ID:201602289619623688   整理番号:12A0999184

Measurement of X-ray diode photocathode sensitivity and uncertainty analysis

著者 (12件):
資料名:
巻: 23  号:ページ: 969-973  発行年: 2011年 
JST資料番号: C2482A  ISSN: 1001-4322  CODEN: QYLIEL  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)

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