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J-GLOBAL ID：201602291014564242   整理番号：16A1207747

FPIR:新しい校正システムに関する一考察【Powered by NICT】

FPIR: Consideration for a new calibration system

著者 (3件)： Wu Lin (CAS Key Laboratory of Microwave Remote Sensing, National Space Science Center, Chinese Academy of Sciences, China) ,  Yan Jingye (CAS Key Laboratory of Microwave Remote Sensing, National Space Science Center, Chinese Academy of Sciences, China) ,  Wu Ji (CAS Key Laboratory of Microwave Remote Sensing, National Space Science Center, Chinese Academy of Sciences, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： IGARSS  ページ： 434-436  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 完全偏光干渉放射計(FPIR)は海面塩分(SSS)のための一次元完全偏光干渉放射計である。装置の概念と性能を実証するために開発した地上ベースプロトタイプ。SSS測定精度を達成するために,FPIR用に設計した新しいキャリブレーションシステム。装置性能を改善するために開発した新しいキャリブレーション法。本論文では,キャリブレーションシステムとFPIRのための新しい較正手順はFPIR地上ベースプロトタイプを設計し評価した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *測定精度 ,  海面塩分 ,  偏波間干渉

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (1件)： 校正