Su Peter について
Department of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, USA について
Han Zhaohong について
Department of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, USA について
Kita Derek について
Department of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, USA について
Singh Vivek について
Department of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, USA について
Du Qingyang について
Department of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, USA について
Kimerling Lionel について
Department of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, USA について
Hu Juejun について
Department of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, USA について
Agarwal Anu について
Department of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts, USA について
Lin Pao Tai について
Electrical and Computer Engineering, Texas A&M University, College Station, Texas, USA について
Richardson Kathleen について
CREOL, The College of Optics and Photonics, University of Central Florida, Orlando, Florida, USA について
Tan Dawn T. H. について
Photonics Devices and Systems Group, Singapore University of Technology and Design, Singapore, Singapore について
IEEE Conference Proceedings について
照射損傷 について
リソグラフィー について
導波路 について
センサ について
照射線量 について
ガスセンサ について
蒸発器 について
透過率 について
蒸着 について
カルコゲン化物ガラス について
オンチップ について
ガラスの性質・分析・試験 について
分析機器 について
オンチップ について
カルコゲン化物ガラス について
導波路 について
ガスセンサ について