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J-GLOBAL ID：201702215852486269   整理番号：17A0693564

光電子分光法に基づいた簡単な非破壊法によるInAs/GaAs量子ドットの二峰性分布の診断

Diagnostic of the Bimodal Distribution of InAs/GaAs Quantum Dots by Means of a Simple Nondestructive Method Based on the Photoelectrical Spectroscopy

著者 (5件)： VOLKOVA N. S. (Nizhni Novgorod State Univ., Nizhni Novgorod, RUS) ,  GORSHKOV A. P. (Nizhni Novgorod State Univ., Nizhni Novgorod, RUS) ,  ISTOMIN L. A. (Nizhni Novgorod State Univ., Nizhni Novgorod, RUS) ,  ZDOROVEYSHCHEV A. V. (Nizhni Novgorod State Univ., Nizhni Novgorod, RUS) ,  LEVICHEV S. (Nizhni Novgorod State Univ., Nizhni Novgorod, RUS)
資料名： Nano  (Nano)
巻： 11  号： 10  ページ： 1650109.1-1650109.8  発行年： 2016年10月 
JST資料番号： W2379A  ISSN： 1793-2920  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： シンガポール (SGP)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *光電子分光法 ,  *ヒ化インジウム ,  *ヒ化ガリウム ,  *量子ドット ,  *分布 ,  非破壊検査 ,  素子構造 ,  温度依存性 ,  アレイ ,  *ナノ構造
準シソーラス用語： *InAs ,  *GaAs ,  *サイズ分布 ,  ヘテロ構造 ,  二峰分布 ,  量子ドットアレイ

分類 (1件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (6件)： 光電子分光法 ,  InAs ,  GaAs ,  量子ドット ,  性分布 ,  診断