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J-GLOBAL ID:201702215945492568   整理番号:17A0360333

酸化膜構成の変遷と走査型プローブ顕微鏡によるナノスケールで推定した臨界応力【Powered by NICT】

Transition of oxide film configuration and the critical stress inferred by scanning probe microscopy at nanoscale
著者 (9件):
資料名:
巻: 660  ページ: 33-36  発行年: 2016年 
JST資料番号: B0824A  ISSN: 0009-2614  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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高温ナノインデンテーション装置に装備された走査型プローブ顕微鏡(SPM)はナノスケールでのNi基単結晶上の酸化物膜成長を特性化in situで採用されている。SPM画像は本来平坦な表面は,酸化中に粗くする酸化物膜配置の転移を明らかにした。酸化中の応力-拡散結合効果に基づいて,酸化物膜における応力進展と表面形態の発展を解析した。転移点における酸化物膜における臨界応力を推定する新しい方法をSPMで得られた表面形態に基づく波形表面波長を測定することにより提案した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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原子・分子のクラスタ 
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