文献

J-GLOBAL ID：201702224286815171   整理番号：17A0642031

単独の低エネルギー(5~10eV)電子による孤立およびクラスター化したDNA損傷の発生についての統一メカニズム

Unified Mechanism for the Generation of Isolated and Clustered DNA Damages by a Single Low Energy (5-10 eV) Electron

著者 (5件)： SHAO Yu (Fuzhou Univ., Fuzhou, CHN) ,  DONG Yanfang (Fuzhou Univ., Fuzhou, CHN) ,  HUNTING Darel (Univ. de Sherbrooke, QC, CAN) ,  ZHENG Yi (Fuzhou Univ., Fuzhou, CHN) ,  SANCHE Leon (Univ. de Sherbrooke, QC, CAN)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 121  号： 4  ページ： 2466-2472  発行年： 2017年02月02日 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： DNAの内核励起共鳴に相当する4.6および9.6eVの単独電子による,タンタル膜上に固定したプラスミドDNA膜(5ML)の塩基損傷について調べた。電子エネルギーが大きいほどDNAへのダメージが大きく,照射線量とクロスリンク率,一重および二重鎖塩基損傷とは正の,超らせん率とは負の相関があることを明らかにした。4.6および9.6eVの電子による全DNA損傷は132および201×10^-15/電子/分子で,43および52%の塩基損傷を含んでいた。電子(e^-)によるDNAの損傷を,ある塩基を損傷(BD)したe^-の逆鎖の塩基への移動による二個の隣接したBD,リン酸基へ移動したe^-によるC-O結合の切断に伴うDNA鎖切断,電子ホッピングによる離れた場所でのBDなどによって説明した。

シソーラス用語： *電子照射 ,  *エネルギー ,  *DNA損傷 ,  エネルギー依存性 ,  DNA鎖切断 ,  DNA【核酸】 ,  依存性 ,  超螺旋
準シソーラス用語： *クラスターDNA損傷 ,  プラスミドDNA ,  リン酸基 ,  照射線量依存性 ,  *低エネルギー ,  電子エネルギー ,  *発生機構

分類 (2件)： その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V) ,  核酸一般  (EB04010U)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低エネルギー ,  電子 ,  クラスター化 ,  DNA損傷 ,  メカニズム