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J-GLOBAL ID：201702224331642548   整理番号：17A0292496

三次元IPコアの結合前後の総テスト時間の最適化方法【JST・京大機械翻訳】

Optimizing pre-bond and post-bond test time for three dimension IP cores

著者 (6件)： Liu Jun (School of Computer and Information, Hefei University of Technology, Anhui Province Key Laboratory of Affective Computing and Advanced Intelligent Machine) ,  Qian Qingqing (School of Computer and Information, Hefei University of Technology, Anhui Province Key Laboratory of Affective Computing and Advanced Intelligent Machine) ,  Wu Xi (School of Computer and Information, Hefei University of Technology, Anhui Province Key Laboratory of Affective Computing and Advanced Intelligent Machine) ,  Wang Wei (School of Computer and Information, Hefei University of Technology, Anhui Province Key Laboratory of Affective Computing and Advanced Intelligent Machine) ,  Chen Tian (School of Computer and Information, Hefei University of Technology, Anhui Province Key Laboratory of Affective Computing and Advanced Intelligent Machine) ,  Ren Fuji (Department of Information Science & Intelligent Systems, Faculty of Engineering, The University of Tokushima)
資料名： Jisuanji Gongcheng yu Yingyong  (Jisuanji Gongcheng yu Yingyong)
巻： 52  号： 22  ページ： 44-48,54  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2533A  ISSN： 1002-8331  CODEN： JGYYAT  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 三次元IP(INTELLECTUAL PROPERTY)コアの結合前と結合後のテスト時間を削減するために,一種の試験シェルを提案した。方法:まず三次元IPコアのすべてのスキャン要素を1つの平面に投影し、BFDアルゴリズムを用いてスキャン元素を各テストシェルのスキャンチェーンに分配し、結合後のテスト時間を減少させる。また,提案したAL(ALLOCATE LAYER)アルゴリズムを用いて,各要素に走査要素を割り当てることにより,結合前の各試験シェルの走査チェーンの長さもバランスさせ,結合前のテスト時間とTSVS数を減少させることができる。また,ALアルゴリズムは各層の回路に含まれるスキャン要素の総長さを可能な限り等しくすることができる.実験結果により,提案方法は,国際的既存の方法と比較して,結合前および結合後の試験時間を,3.17%~%%減少させ,そして,三次元IPコアのすべての層に含まれる走査要素の長さは,より均一であった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  チェーン ,  *最適化手法 ,  走査 ,  *三次元
準シソーラス用語： *IPコア , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： three Dimensional Intellectual Property cores ,  test wrapper ,  pre-bond test time ,  post-bond test time

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： IPコア ,  テスト時間 ,  最適化方法