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J-GLOBAL ID：201702228760089279   整理番号：17A0509890

チップ増強Ramanボルタンメトリー 被覆率依存性と定量的モデリング

Tip-Enhanced Raman Voltammetry: Coverage Dependence and Quantitative Modeling

著者 (7件)： MATTEI Michael (Northwestern Univ., Illinois, USA) ,  KANG Gyeongwon (Northwestern Univ., Illinois, USA) ,  GOUBERT Guillaume (Northwestern Univ., Illinois, USA) ,  CHULHAI Dhabih V. (Pennsylvania State Univ., Pennsylvania, USA) ,  SCHATZ George C. (Northwestern Univ., Illinois, USA) ,  JENSEN Lasse (Pennsylvania State Univ., Pennsylvania, USA) ,  VAN DUYNE Richard P. (Northwestern Univ., Illinois, USA)
資料名： Nano Letters  (Nano Letters)
巻： 17  号： 1  ページ： 590-596  発行年： 2017年01月 
JST資料番号： W1332A  ISSN： 1530-6984  CODEN： NALEFD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電気化学原子間力顕微鏡(EC-AFM)のプローブチップを用いて増強Raman分光と同時にサイクリックボルタモグラム(TERS-CV)の測定を,ITO電極上の種々の被覆率のナイルブルー(NB)分子膜の種々の空間位置において行い,単一分子の電気化学を研究した。種々の被覆率及び空間位置におけるTERS測定における591cm^-1モードの積分強度のCVを得,Lavironモデルに基づく当て嵌めにより表面結合電気化学活性種に対する定量的な式量電位を得た。さらにそれぞれの被覆率の種々の空間位置の単一或は数分子の式量電位のヒストグラムから中性の還元化学種に比し,カチオン性の酸化化学種の電気化学挙動が局所環境に対してより鈍感であることを示した。部位を特定したEC-AFM TERS-CVによる電気化学測定と定量的モデリングの組み合わせは,電気触媒,生物における電子移動,及びエネルギー生産と貯蔵の如き応用におけるナノスケールの電極の不均一性の理解に役立つであろう。

シソーラス用語： *表面増強Raman分光法 ,  *サイクリックボルタンメトリー ,  電極 ,  酸化インジウムスズ ,  単一性 ,  電気化学 ,  薄膜 ,  被覆率 ,  定量的分析 ,  電位 ,  酸化還元電位 ,  窒素複素環化合物 ,  酸素複素環化合物 ,  *TERS【ラマン分光法】 ,  単一分子 ,  芳香族アミン ,  キノイド化合物 ,  インモニウム ,  芳香族縮合化合物 ,  第一アミン
準シソーラス用語： ITO電極 ,  式量電位

分類 (3件)： 酸化,還元  (CF02060T) ,  有機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  (BM08064T) ,  電極過程  (CB07040U)

物質索引 (1件)： ナイルブルー

タイトルに関連する用語 (6件)： 増強 ,  ボルタンメトリー ,  被覆率 ,  依存性 ,  定量 ,  モデリング