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J-GLOBAL ID：201702230006998086   整理番号：17A0829102

ガードバンド【Powered by NICT】

Containing guardbands

著者 (2件)： Amrouch Hussam (Karlsruhe Institute of Technology, Chair for Embedded Systems (CES), Karlsruhe, Germany) ,  Henkel Jorg (Karlsruhe Institute of Technology, Chair for Embedded Systems (CES), Karlsruhe, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ASP-DAC  ページ： 537-542  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 深いナノCMOS時代のトランジスタは分解効果に感受性が信頼性問題はコストと性能のような従来の設計制約を置き換える可能性がある。これは広く,広いガードバンド(すなわち安全余裕)が必要なために,持続不可能高価になる信頼性を作成した。はこの傾向を逆転させるための時間を事実にある:ガードバンドを広げるの代わりに,それらを含むが不可欠である。本研究では,この目標を達成するために三種類の新規手段を要約した。原因は物理的起源であるので,劣化効果は互いに(すなわち増幅または相殺)影響することを排除できない。,最初の分解効果の相互依存性は小さいが,十分なガードバンドを設計に向けてモデル化することが共同ではなく別々にすべきであることを示し検討した。,いわゆる劣化を意識したセルライブラリに基づく論理合成をよりのガードバンドは本質的に含まれる弾性回路を得るために設計者は市販合成ツールで利用可能な成熟した最適化アルゴリズムを使用することが可能になる方法を加齢を意識した示した。最後に,今まで探求ほとんど瞬間的トランジスタエージングは信頼性最適化のための大きな可能性を持つことを最近の発見である。一般の加齢は過去10年間に広く研究されてきたが,まだ初期段階である回路の信頼性に及ぼす瞬間的加齢の影響を調べた。実際,これは,唯一の長期信頼性劣化,伝統的な見方と同様に,短期信頼性劣化から加齢におけるパラダイムシフトである。物理ベース劣化モデルを用いた経験的加齢モデルと比較して,高い確実性のためにかなり小さいガードバンドをもたらすかを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *信頼性 ,  安全性 ,  論理合成 ,  トランジスタ ,  弾性 ,  感受性 ,  モデリング
準シソーラス用語： 劣化モデル ,  パラダイムシフト ,  長期信頼性 ,  回路信頼性 ,  信頼性最適化 ,  最適アルゴリズム ,  セルライブラリ ,  相互依存性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)