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J-GLOBAL ID：201702243622957342   整理番号：17A0417479

リアルタイム蛍光寿命イメージング顕微鏡法のための4.3プログラム可能なサブナノ秒時間ゲート4タップロックイン画素CMOSイメージセンサ【Powered by NICT】

4.3 A programmable sub-nanosecond time-gated 4-tap lock-in pixel CMOS image sensor for real-time fluorescence lifetime imaging microscopy

著者 (7件)： Seo Min-Woong (Shizuoka University, Hamamatsu, Japan) ,  Shirakawa Yuya (Shizuoka University, Hamamatsu, Japan) ,  Masuda Yuriko (Shizuoka University, Hamamatsu, Japan) ,  Kawata Yoshimasa (Shizuoka University, Hamamatsu, Japan) ,  Kagawa Keiichiro (Shizuoka University, Hamamatsu, Japan) ,  Yasutomi Keita (Shizuoka University, Hamamatsu, Japan) ,  Kawahito Shoji (Shizuoka University, Hamamatsu, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISSCC  ページ： 70-71  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 蛍光時間分解(TR)分析技術は,生命科学および医学における基本的で有効な方法である。他の中で,蛍光寿命イメージング顕微鏡(FLIM)は生物医学的応用のための代表的な測定法の一つである。最近,例えば,任意電子増倍(EM)読み出し,単一光子アバランシェダイオード(SPAD),TR CMOSイメージセンサ(CIS)を有するCCD,FLIMのための進歩した全固体撮像素子が報告されている[1~3]。これらのデバイスは,時間相関単一光子計数(TCSPC)システムのような典型的なFLIMシステムと比較してコンパクトに実装できる[4]。しかし,CCDまたはSPADに基づくイメージングデバイスはまだいくつかの問題,特化した製造プロセスの必要性,高電圧の使用,より大きな回路の複雑さを含む。画素[3]二タップを有する最近のTR CISはリアルタイム寿命イメージングを実現する方法を示したが,試料は多指数関数減衰成分を持つならば二タップCISは試料の寿命を実時間で測定できないと言う制約を持っている。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 指数関数 ,  *蛍光 ,  *イメージセンサ ,  *ナノ秒 ,  生産工程 ,  ライフサイエンス ,  *画素 ,  *画像処理 ,  *CMOS
準シソーラス用語： 時間相関単一光子計数 ,  固体撮像素子 ,  単一光子アバランシェダイオード ,  生物医学的応用 ,  *CMOSイメージセンサ ,  *実時間 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C) ,  測光と光検出器一般  (BD07031F)

タイトルに関連する用語 (9件)： リアルタイム ,  蛍光寿命イメージング顕微鏡法 ,  サブ ,  ナノ秒時間 ,  ゲート ,  タップ ,  ロックイン ,  画素 ,  CMOSイメージセンサ