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J-GLOBAL ID:201702243943415543   整理番号:17A0381880

高分子中の正孔集合緩衝層への弱塩基添加の影響: フラーレン太陽電池

Influence of Weak Base Addition to Hole-Collecting Buffer Layers in Polymer:Fullerene Solar Cells
著者 (7件):
資料名:
巻: 22  号:ページ: WEB ONLY  発行年: 2017年02月 
JST資料番号: U7014A  ISSN: 1420-3049  CODEN: MOLEFW  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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標準型高分子:フラーレン太陽電池中の酸性高分子正孔集合層への弱塩基添加の影響を報告した。弱塩基アニリン(AN)の量を変えて,ポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン):ポリ(スチレンスルホナート)(PEDOT:PSS)の溶液へ添加した。アニリン添加PEDOT:PSS溶液の酸性度は,pH=1.74(AN=0モル%)からpH=4.24(AN=1.8モル%)に低下した。PEDOT:PSS-AN膜の電気伝導率は,pH値であまり変化しなかったが,面外と面内方向間の伝導度の比率は溶液のpHに依存した。PEDOT:PSS-AN層搭載全デバイスが,元のPEDOT:PSS層搭載したものよりも良好なPCEを示したのにも関わらず,最高の電力変換効率(PCE)がpH=2.52で得られた。原子間力顕微鏡研究から,PEDOT:PSS領域のサイズがpHが増加するにつれてより小さくなることが判明した。一つの太陽条件下での100時間照明での安定性試験から,PCE崩壊は,元のPEDOT:PSS層搭載ものよりもPEDOT:PSS-AN層搭載デバイスが比較的緩慢であることが分かった。(翻訳著者抄録)
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分類 (4件):
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太陽電池  ,  炭素とその化合物  ,  高分子固体の物理的性質  ,  有機化合物の薄膜 
物質索引 (1件):
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