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J-GLOBAL ID:201702246381517058   整理番号:17A0754710

(iPrCp)_2Y(iPrと)前駆体を用いた原子層堆積により成長させたY_2O_3薄膜の構造的,化学的,および電気的性質【Powered by NICT】

Structural, chemical, and electrical properties of Y2O3 thin films grown by atomic layer deposition with an (iPrCp)2Y(iPr-amd) precursor
著者 (7件):
資料名:
巻: 63  ページ: 279-284  発行年: 2017年 
JST資料番号: W1055A  ISSN: 1369-8001  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Y_2O_3薄膜は350°Cでヘテロレプチック液体(iPrCp)2Y(iPr amd)前駆体による原子層堆積(A LD)により成長させた。500°Cと700°Cで蒸着したままの膜と焼なましたY_2O_3膜の構造と化学的性質は,表面粗さの変化,結晶構造のためにX線回折を,化学状態のX線光電子分光法のための原子間力顕微鏡により分析した。堆積Y_2O_3膜は面(222),化学量論的状態,および最小ヒドロキシル化形成700°Cまでに沿って同じ結晶配向を示した。金属-酸化物-半導体キャパシタの誘電体層である,堆積後アニーリングなしに液体(iPrCp)2Y(iPrと)前駆体の堆積したままのA LD Y_2O_3膜を固体Y(MeCp)3のA LD Y_2O_3よりはるかに低い漏洩電流密度を示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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固体デバイス材料  ,  半導体薄膜 

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