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J-GLOBAL ID：201702246435795646   整理番号：17A0529087

薄膜のX線蛍光スペクトル測定に及ぼす試料厚さの影響について検討した。【JST・京大機械翻訳】

Study of the Impact of Sample Thickness on Thin Film Method X-Ray Fluorescence Spectrum Measurement

著者 (8件)： Gan Tingting (Key Laboratory of Environmental Optics and Technology,Key Laboratory of Optical Monitoring Technology for Environment, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Zhang Yujun (Key Laboratory of Environmental Optics and Technology,Key Laboratory of Optical Monitoring Technology for Environment, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Zhao Nanjing (Key Laboratory of Environmental Optics and Technology,Key Laboratory of Optical Monitoring Technology for Environment, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Yin Gaofang (Key Laboratory of Environmental Optics and Technology,Key Laboratory of Optical Monitoring Technology for Environment, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Xiao Xue (Key Laboratory of Environmental Optics and Technology,Key Laboratory of Optical Monitoring Technology for Environment, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Zhang Wei (Army Officer Academy of PLA) ,  Liu Jianguo (Key Laboratory of Environmental Optics and Technology,Key Laboratory of Optical Monitoring Technology for Environment, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics,Chinese Academy of Sciences) ,  Liu Wenqing (Key Laboratory of Environmental Optics and Technology,Key Laboratory of Optical Monitoring Technology for Environment, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics,Chinese Academy of Sciences)
資料名： Guangpuxue yu Guangpu Fenxi  (Guangpuxue yu Guangpu Fenxi)
巻： 36  号： 12  ページ： 4039-4044  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2093A  ISSN： 1000-0593  CODEN： GYGFED  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： CR,PB,CDの3つの元素を濃縮したナイロン膜サンプルとガラス繊維膜を研究対象として,異なる試料厚さの薄膜試料のXRFスペクトルをXRFによって測定し,そして,CR,PB,CRCA,AS,SRの元素の特性を研究し,試料の厚さが薄膜のXRFスペクトル測定に及ぼす影響を研究した。結果は以下を示す。薄膜の厚さは,異なるエネルギー領域における元素の特性スペクトル線の蛍光特性に影響を及ぼさなかった。元素の特徴スペクトル線エネルギーが大きいほど、元素特徴X線蛍光浸透膜が検出器に到着する過程で損失が少ない。しかし,薄膜の厚さが増加すると,マトリックス効果が強くなり,対応するスペクトル線の位置におけるバックグラウンド蛍光強度が大きくなるため,試料の厚さの増加によるマトリックス効果が薄膜法のXRFスペクトル測定特性スペクトル線のエネルギーが低い(エネルギーが7KEVより小さい)元素に対して、薄膜サンプルの厚さを増加させることで、成分の質量濃度の濃度を増加させ、薄膜のXRFスペクトル測定の感度を特性スペクトル線のエネルギーが高い元素(エネルギー>7KEV)に対して、サンプルの厚さを適切に増やすことによって、測定の質量濃度の濃度を増やすことにより、XRFスペクトル測定の感度を向上させ、それは,XRFスペクトルの測定と分析により有益である。本研究は大気と水の重金属薄膜のXRFスペクトル分析における薄層の濃縮と濃縮技術に重要な理論的根拠を提供した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 浸透 ,  ガラス繊維 ,  *X線 ,  *スペクトル ,  金属薄膜 ,  *蛍光スペクトル ,  マトリックス効果 ,  分光分析 ,  *蛍光 ,  エネルギー領域 ,  *薄膜
準シソーラス用語： 蛍光強度 ,  蛍光特性 ,  *スペクトル測定 ,  ナイロン膜 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Spectroscopy ,  XRF ,  Thin film method ,  Heavy metal ,  Sample thickness

分類 (3件)： X線技術  (BA02060D) ,  その他の物理分析  (CC03014E) ,  分光分析  (CC03012W)

タイトルに関連する用語 (5件)： 薄膜 ,  X線 ,  蛍光スペクトル ,  試料 ,  厚さ