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J-GLOBAL ID：201702253823253158   整理番号：17A0401888

金属基板からの透光性楕円体粒子のレーザ支援除去中の表面孔食に関する研究【Powered by NICT】

Studies on surface pitting during laser assisted removal of translucent ellipsoidal particulates from metallic substrates

著者 (5件)： Sugathan Bijoy (Laser and Plasma Technology Division, BARC, Mumbai 400085, India) ,  Sugathan Bijoy (Department of Optoelectronics, University of Kerala, Karyavattom, Thiruvananthapuram 695581, India) ,  Nilaya J.Padma (Laser and Plasma Technology Division, BARC, Mumbai 400085, India) ,  Pillai V.P.Mahadevan (Department of Optoelectronics, University of Kerala, Karyavattom, Thiruvananthapuram 695581, India) ,  Biswas D.J. (Laser and Plasma Technology Division, BARC, Mumbai 400085, India)
資料名： Optics and Lasers in Engineering  (Optics and Lasers in Engineering)
巻： 91  ページ： 24-29  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0602B  ISSN： 0143-8166  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 金属基板表面から楕円形状の半透明粒子のレーザ支援除去中の電場増強表面吸収の症状を報告した。この効果により生じた表面孔食が楕円体の主軸にminorの比の関数として調べた実験的にし,行動傾向は幾何光学の原理を用いて理論的に説明した。研究はまた,表面孔食に及ぼす入射コヒーレント光のフルエンスと波長の影響を含んでいる。表面トポグラフィーのプロービングはその除去後レーザ曝露後の単一粒子による多重ピットの形成への洞察を得る助けとなった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： コヒーレント光 ,  *透光性 ,  電場 ,  フルエンス ,  *楕円体 ,  主軸 ,  波長 ,  *レーザ ,  多重化 ,  幾何光学
準シソーラス用語： 単一粒子 ,  表面トポグラフィー ,  半透明 ,  *金属基板 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： レーザ支援洗浄 ,  場表面増強吸収 ,  楕円体粒子 ,  孔食深さ ,  表面トポグラフィー

分類 (1件)： レーザの応用  (BD04100V)

タイトルに関連する用語 (7件)： 金属基板 ,  透光性 ,  楕円体 ,  レーザ ,  支援 ,  孔食 ,  研究