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J-GLOBAL ID：201702268518049629   整理番号：17A0079531

SiCセラミックスの2次元プレストレスのスクラッチングによる損傷のモニタリング

Monitoring for damage in two-dimensional pre-stress scratching of SiC ceramics

著者 (6件)： Zhang Gaofeng (School of Mechanical Engineering, University of Xiangtan, Xiangtan, China) ,  Zeng Yijiang (School of Mechanical Engineering, University of Xiangtan, Xiangtan, China) ,  Zhang Wenbo (School of Mechanical Engineering, University of Xiangtan, Xiangtan, China) ,  Zhou Houming (School of Mechanical Engineering, University of Xiangtan, Xiangtan, China) ,  Wen Zhangya (School of Mechanical Engineering, University of Xiangtan, Xiangtan, China) ,  Yao Yuan (School of Mechanical Engineering, University of Xiangtan, Xiangtan, China)
資料名： International Journal of Precision Engineering and Manufacturing  (International Journal of Precision Engineering and Manufacturing)
巻： 17  号： 11  ページ： 1425-1432  発行年： 2016年11月 
JST資料番号： A1070A  ISSN： 2234-7593  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スクラッチに起因する損傷を減少させるために2次元プレストレスが使用されるが,本論文は,SiCセラミックの2次元プレストレスのスクラッチングにおける表面/表面下の損傷のモニタリングのためのアコースチック・エミッション(AE)技術を使用する方法を報告した。この研究での実験は,0MPa,300MPaおよび500MPaの圧力を発生させるプレストレス装置を利用したUMT-2マシン(CETR USA)で行った。実験結果は,AE信号の平均周波数および大きさが,スクラッチングの接線力およびスクラッチに起因する表面/表面下の材料の損傷と良好な相関を持つことを実証した。一定の定格負荷に対して,AE信号の平均周波数および大きさは,プレストレスの増加とともに減少することが観察され,これは,2次元プレストレスのスクラッチングによって誘発されたSiCセラミックの表面/表面下の損傷が,従来型のスクラッチングによって誘発されたものに満たないことを示している。この発見は,セラミックスのスクラッチングや研削における表面/表面下の損傷を検出するのに有効な実用的オンラインAEモニタリングシステムを開発するための基本的な情報をもたらす。これらの結果は,2次元プレストレス法が脆性材料の加工損傷の減少に寄与することも示している。Copyright 2016 Korean Society for Precision Engineering and Springer-Verlag Berlin Heidelberg Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 炭化ケイ素 ,  セラミック ,  *プレストレス ,  応力 ,  *損傷 ,  監視 ,  アコースティックエミッション ,  *AE検査 ,  信号 ,  駆動力 ,  相関 ,  研削 ,  損傷検出 ,  脆性材料
準シソーラス用語： AE ,  AE信号 ,  SiC ,  オンラインモニタリング ,  *スクラッチ ,  セラミック材料 ,  モニタリング ,  二次元応力 ,  接線力 ,  表面下損傷 ,  表面損傷

著者キーワード (4件)： Acoustic emission ,  Monitoring ,  Surface/subsurface damage ,  Pre-stress scratching

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： SiC ,  セラミックス ,  2次元 ,  プレストレス ,  損傷 ,  モニタリング