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J-GLOBAL ID:201702268847882034   整理番号:17A0445263

SAW応用のためのZnOバッファ層を用いたCサファイヤ上に成長させた質を高めAlNエピタキシャル膜【Powered by NICT】

Quality-enhanced AlN epitaxial films grown on c-sapphire using ZnO buffer layer for SAW applications
著者 (6件):
資料名:
巻: 402  ページ: 392-399  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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薄いZnO緩衝層を有するAlNエピタキシャル膜は,弾性表面波(SAW)応用のためのDCマグネトロンスパッタリングによりc-サファイア上に堆積することに成功した。AlNエピタキシャル膜とそれに関連したSAW特性の構造特性に及ぼすZnOバッファ層の厚さの影響を系統的に調べた。結果は,薄いZnO緩衝層は有意にAlN膜の結晶品質を向上させ,AlN膜中の歪を放出することができることを明らかにした。AlN膜は(0001)[101 0]AlN∥(0001)[101 0]ZnO//(0001)[2 110]Al_2O_3の方位関係を持つZnO緩衝基板上にエピタキシャル成長させた。1.4GHzの中心周波数,5600m/sの位相速度を用いた高周波SAWデバイスは,得られたAlN膜上で達成された。最適ZnOバッファ層の厚さは10nmであることを見出し,0.84°のロッキングカーブ,ほぼ零応力とSAWデバイスの低挿入損失のFWHM値をもつ高品質エピタキシャルAlN膜が得られた。AlNベースSAWデバイスの応用のためのサファイア基板上の高品質AlNエピタキシャル膜を達成するための有効なアプローチを提供する。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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酸化物薄膜  ,  半導体のルミネセンス 

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