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J-GLOBAL ID：201702269575647820   整理番号：17A0444900

市販純チタンと選択的レーザ融解チタン上へのりん酸カルシウムセラミックの結晶電析に関する比較研究【Powered by NICT】

Comparative study on electrocrystallization of calcium phosphate ceramics on commercially pure titanium and selective laser melting titanium

著者 (4件)： Sun Xuetong (Center for Precision Engineering, Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences, Shenzhen 518055, China) ,  Lin Huaishu (Guangdong Technical College of Water Resources and Electric Engineering, Guangzhou 510925, China) ,  Chen Xianshuai (Center for Precision Engineering, Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences, Shenzhen 518055, China) ,  Zhang Peng (Oral subsidiary Foshan University Hospital, 528000, China)
資料名： Materials Letters  (Materials Letters)
巻： 192  ページ： 92-95  発行年： 2017年 
JST資料番号： E0935A  ISSN： 0167-577X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,市販純チタン(CP Ti)と生成した選択的レーザ溶融純チタン(SLM Ti)部品上へのりん酸カルシウムセラミックの結晶電析過程を研究した。微細構造研究は,SLM Ti部品はより多くの表面欠陥を持つマルテンサイトα′微細構造が,CP-Ti試料は等軸αミクロ組織を示したことを示した。比較電気化学的測定から,両基板上にCaP堆積は拡散制御3D瞬間核形成機構を示すことを明らかにした。しかし,SLM Ti試料で記録された分極電位がCaP蒸着過程の初期段階でCP-Ti試料のそれより明らかに低い,濃度分極は無視できた。この結果は,SLMプロセスは結晶電析過程における核形成中心として作用することをより多くの表面欠陥を開発したので遅い結晶電析過程に起因する過電圧はSLM Ti試料に減少したことを示唆した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *セラミック ,  マルテンサイト ,  *レーザ融解 ,  *チタン ,  微細構造 ,  核形成 ,  拡散律速 ,  *リン酸カルシウム ,  表面欠陥 ,  過電圧 ,  三次元
準シソーラス用語： 濃度分極 ,  形成機構 ,  *電析結晶 ,  *純チタン , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： Electrocrystallization ,  欠陥 ,  選択的レーザ融解 ,  純チタン

分類 (5件)： その他の金属組織学  (WB01040Y) ,  電気めっき  (WC08023B) ,  機械的性質  (WB02030U) ,  金属材料へのセラミック被覆  (YC02050V) ,  医用素材  (GA05040H)

タイトルに関連する用語 (7件)： 純チタン ,  レーザ融解 ,  チタン ,  りん酸カルシウム ,  セラミック ,  結晶電析 ,  研究