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J-GLOBAL ID：201702281368997704   整理番号：17A0207636

STM32に基づく微小変位検出システム設計【JST・京大機械翻訳】

Design of micro displacement detecting system based on STM32

著者 (5件)： Wang Xuanze (College of Mechanical Engineering,Hubei University of Technology, Key Laboratory of Modern Manufacture Quality Engineering) ,  Hou Hao (College of Mechanical Engineering,Hubei University of Technology) ,  Zhai Zhongsheng (College of Mechanical Engineering,Hubei University of Technology, Key Laboratory of Modern Manufacture Quality Engineering) ,  Yang Liangen (College of Mechanical Engineering,Hubei University of Technology, Key Laboratory of Modern Manufacture Quality Engineering) ,  Liu Wenchao (College of Mechanical Engineering,Hubei University of Technology, Key Laboratory of Modern Manufacture Quality Engineering)
資料名： Chuanganqi yu Weixitong  (Chuanganqi yu Weixitong)
巻： 35  号： 7  ページ： 83-86  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2884A  ISSN： 2096-2436  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： STM32に基づく微小変位検出システムの設計方式を開発した。DCドリフトの回路処理モジュールを抑制することによって,DCの安定した2つの光電子信号を得た。2つの光電子信号の位相特性に従って,STM32を用いて二つの光電子信号を同期サンプリングし,楕円フィッティング,最小二乗法,位相位相を用いてデータを処理し,微小変位を計算した。現場試験の結果は以下を示す。このシステムは微小変位測定の必要条件を満たす。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 必要条件 ,  ドリフト ,  最小二乗法 ,  光電子 ,  *位相 ,  位相特性 ,  現場試験

著者キーワード (7件)： interference ,  micro displacement ,  DC drift ,  STM32 ,  Ellipse fitting ,  least-square fitting ,  phase-unwrapping

分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (3件)： 微小変位 ,  検出システム ,  設計