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J-GLOBAL ID：201702281531855575   整理番号：17A0123502

エポキシ樹脂の電気的木形成および破壊メカニズムにおけるバルク電荷輸送プロセスの役割

The role of bulk charge transport processes in electrical tree formation and breakdown mechanisms in epoxy resins

著者 (4件)： Chalashkanov N. M. (University of Leicester, University Road, LE1 7RH, UK) ,  Dodd S. J. (University of Leicester, University Road, LE1 7RH, UK) ,  Dissado L. A. (University of Leicester, University Road, LE1 7RH, UK) ,  Fothergill J.C. (City, University of London, Northampton Square, EC1V 0HB, UK)
資料名： IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation  (IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 23  号： 6  ページ： 3256-3266  発行年： 2016年 
JST資料番号： W0578A  ISSN： 1070-9878  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ガラス転移温度を超える,すなわち樹脂が柔軟な状態にある時のAraldite CY1311エポキシ樹脂サンプルにおいて,吸収された水分の異なる温度とレベルで電気トリーイング実験を行った。得られた電気木のフラクタル次元および木成長率は,環境因子(温度および湿度)に依存することが判明した。サンプル中に吸収された特定の温度および水分レベルでは,電気的木劣化から熱暴走による破壊までの遷移が生じることも判明した。同じエポキシ樹脂系の誘電特性を相補的に調べたところ,バルク擬似直流(QDC)電荷輸送機構がガラス転移温度以上で発生し,誘電応答の特徴が電気的な木劣化の形および熱破壊への移行に関連していることを示した。これは,局所空間電荷電場分布を変更する際のバルクQDC電荷輸送プロセスの効果によって定性的に説明される。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST

シソーラス用語： *エポキシ樹脂 ,  *電力 ,  *木【グラフ】 ,  ガラス転移点 ,  トリーイング ,  フラクタル次元 ,  成長率 ,  因子 ,  水分 ,  現象 ,  絶縁破壊 ,  誘電性 ,  応答 ,  空間電荷 ,  分布 ,  *形成 ,  *電荷輸送 ,  環境因子 ,  熱暴走 ,  誘電応答 ,  *破壊機構 ,  電界分布
準シソーラス用語： *破壊メカニズム ,  電場分布

分類 (2件)： 絶縁材料  (NA04030W) ,  エポキシ樹脂  (YH07040I)

タイトルに関連する用語 (7件)： エポキシ樹脂 ,  木 ,  破壊メカニズム ,  バルク ,  電荷輸送 ,  プロセス ,  役割