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J-GLOBAL ID:201702281953238827   整理番号:17A0716501

励起子駆動環状化による正孔輸送材料の劣化

Degradation of Hole Transport Materials via Exciton-Driven Cyclization
著者 (15件):
資料名:
巻:号: 15  ページ: 13369-13379  発行年: 2017年04月19日 
JST資料番号: W2329A  ISSN: 1944-8244  CODEN: AAMICK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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最近の有機発光ダイオード(OLEDs)の技術革新は目覚ましく,携帯電話に採用され,ウォッチやTV用ディスプレイにも使用されるようになっている。しかし,次世代OLEDsの開発に当たっては,そのデバイス寿命やコストのさらなる向上が必要である。特に,発光層(EML)材料や再結合帯近傍の層に対する励起子の働きの解明が必要である。本稿では,特に,正孔輸送層(HTL)中の一般的な分解経路の解明を行った。故障したOLEDデバイスの解析から,共通的な結晶内環状化経路が明らかになった。これは,これまでアリルアミン含有HTL材料では報告されていなかったもので,これまで言われていた崩壊経路に並行か,早い経路である。今後,この情報をもとに次世代OLEDs用の材料を開発する。
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分類 (2件):
分類
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発光素子  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
タイトルに関連する用語 (3件):
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