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J-GLOBAL ID：201702281991624972   整理番号：17A0311640

二重質量MEMSジャイロスコープのためのマルチスケール並列温度誤差処理【Powered by NICT】

Multi-scale parallel temperature error processing for dual-mass MEMS gyroscope

著者 (12件)： Shen Chong (Key Laboratory of Instrumentation Science & Dynamic Measurement, Ministry of Education, PR China) ,  Shen Chong (National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, School of Instrument and Electronics, North University of China, Taiyuan 030051, PR China) ,  Li Jie (Key Laboratory of Instrumentation Science & Dynamic Measurement, Ministry of Education, PR China) ,  Li Jie (National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, School of Instrument and Electronics, North University of China, Taiyuan 030051, PR China) ,  Zhang Xiaoming (Key Laboratory of Instrumentation Science & Dynamic Measurement, Ministry of Education, PR China) ,  Zhang Xiaoming (National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, School of Instrument and Electronics, North University of China, Taiyuan 030051, PR China) ,  Tang Jun (Key Laboratory of Instrumentation Science & Dynamic Measurement, Ministry of Education, PR China) ,  Tang Jun (National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, School of Instrument and Electronics, North University of China, Taiyuan 030051, PR China) ,  Cao Huiliang (Key Laboratory of Instrumentation Science & Dynamic Measurement, Ministry of Education, PR China) ,  Cao Huiliang (National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, School of Instrument and Electronics, North University of China, Taiyuan 030051, PR China) ,  Liu Jun (Key Laboratory of Instrumentation Science & Dynamic Measurement, Ministry of Education, PR China) ,  Liu Jun (National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, School of Instrument and Electronics, North University of China, Taiyuan 030051, PR China)
資料名： Sensors and Actuators. A. Physical  (Sensors and Actuators. A. Physical)
巻： 245  ページ： 160-168  発行年： 2016年07月01日 
JST資料番号： B0345C  ISSN： 0924-4247  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マルチスケール並列モデルに基づく二重質量微小電気機械システム(MEMS)ジャイロスコープのための温度誤差処理法を提案した。まず,試料エントロピーに基づく有界アンサンブル経験的モード分解(SE BEEMD)は,元の信号を種々のスケールに分解,雑音のみスケール,混合スケールとドリフトスケールを含むように提案した。前方線形予測(FLP)を用いて,混合スケールで雑音を除去し,極端学習機械(ELM)に基づくモデルを用いて,ドリフトスケールでドリフトを補償することである,二段階は平行を行った;いよいよ最終結果は,再構成後に得られた。実験結果は以下のことを示した:(1)伝統連続モデルと比較して,提案した並列モデルは,より効果的に温度誤差をなくすことができることおよびAllan解析の各パラメータが改善された。特に,0.035μrad9.93e4μrad,角度ランダムウォーク2.13e,5/s~1/2から7.94e VI/s~1/2に低下,5.28e,4/sから4.79e,4/秒に減少したバイアス不安定性,0.012/s~3/2から0.092/s~3~2速度ランダムウォークと角速度ランプからの還元定量雑音は0.013/s~2から0.011/s~2;まで低下した。(2)消費ニューラルネットワーク伝統的な時間と比較して,ELMには最高のモデル正確で最短訓練時間,オンライン温度ドリフトモデリングと補正に有用であるであろうを持っている。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *MEMS ,  バイアス ,  再構成 ,  *ジャイロスコープ ,  雑音 ,  *温度誤差 ,  モデリング ,  エントロピー ,  角速度 ,  線形予測 ,  酔歩
準シソーラス用語： 温度ドリフト ,  極度学習機械 ,  *マルチスケール ,  *MEMSジャイロスコープ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： MEMSジャイロスコープ ,  温度誤差処理 ,  EMD ,  ELM

分類 (3件)： 時間,速度,加速度,角速度の計測法・機器  (AD05040K) ,  温度測定,温度計  (AD06010K) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (4件)： 質量 ,  MEMSジャイロスコープ ,  マルチスケール ,  温度誤差