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J-GLOBAL ID：201702286673744823   整理番号：17A0055338

位相差の高精度測定の最近の諸問題【Powered by NICT】

Modern problems of high-precision measurements of the phase differences

著者 (2件)： Zhmud V.A. (Novosibirsk State Technical University (Russia)) ,  Goncharenko A.M. (Institute of Laser Physics SB RAS (Russia, Novosibirsk))
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： APEIE  ページ： 314-318  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 精密位相測定は測定装置の多くの分野が必要である。これらのデバイスの最も重要なパラメータ1)キャリア周波数範囲;2)測定した位相差の範囲を変えること3)位相測定誤差4)位相増加のための周波数範囲。本論文では,これらの目的のために位相差の精密測定のための機会と挑戦を論じた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 精密測定 ,  *位相 ,  位相測定 ,  測定誤差 ,  計測器 ,  周波数
準シソーラス用語： キャリア周波数 ,  *高精度 ,  *位相差 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (9件)： 伝送回路理論  (NA02020X) ,  信号理論  (ND02020G) ,  発振回路  (NC05020Y) ,  光学情報処理  (BD03060T) ,  電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C) ,  光導電素子  (NC03083X) ,  パターン認識  (JE07000S) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  技術の標準化・規格  (NA01050X)

タイトルに関連する用語 (2件)： 位相差 ,  問題