Zhang Rui について
Shanxi Provincial Engineering and Technology Research Center for Optical-Electric Information and Instrument, North University of China, Key Laboratory of Instrument Science and Dynamic Measurement of the Ministry of Education, Key Laboratory for Electronic Measurement Technology について
Chen Youhua について
Shanxi Provincial Engineering and Technology Research Center for Optical-Electric Information and Instrument, North University of China, Key Laboratory of Instrument Science and Dynamic Measurement of the Ministry of Education, Key Laboratory for Electronic Measurement Technology について
Li Kewu について
Shanxi Provincial Engineering and Technology Research Center for Optical-Electric Information and Instrument, North University of China, Key Laboratory of Instrument Science and Dynamic Measurement of the Ministry of Education, Key Laboratory for Electronic Measurement Technology について
Wang Zhibin について
Shanxi Provincial Engineering and Technology Research Center for Optical-Electric Information and Instrument, North University of China, Key Laboratory of Instrument Science and Dynamic Measurement of the Ministry of Education, Key Laboratory for Electronic Measurement Technology について
Li Shiwei について
Shanxi Provincial Engineering and Technology Research Center for Optical-Electric Information and Instrument, North University of China, Key Laboratory of Instrument Science and Dynamic Measurement of the Ministry of Education, Key Laboratory for Electronic Measurement Technology について
Wang Yaoli について
Shanxi Provincial Engineering and Technology Research Center for Optical-Electric Information and Instrument, North University of China, Key Laboratory of Instrument Science and Dynamic Measurement of the Ministry of Education, Key Laboratory for Electronic Measurement Technology について
Zhang Minjuan について
Shanxi Provincial Engineering and Technology Research Center for Optical-Electric Information and Instrument, North University of China, Key Laboratory of Instrument Science and Dynamic Measurement of the Ministry of Education, Key Laboratory for Electronic Measurement Technology について
Guangxue Xuebao について
スペクトル画像 について
入射角 について
偏光 について
画像処理 について
同調 について
レンズ について
波長 について
測定誤差 について
光学系 について
スペクトル について
スペクトル測定 について
画像化 について
補正法 について
入射光 について
イメージングシステム について
imaging systems について
spectral correction について
spectropolarimetric imaging について
acousto-optic tunable filter について
photoelastic modulation について
光デバイス一般 について
スペクトル について
偏光 について
イメージングシステム について