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J-GLOBAL ID：201702287328522170   整理番号：17A0415027

非接触静電放電の測定システムのためのギャップ検出システムの設計【Powered by NICT】

Gap detecting system design for measurement system of non-contact electrostatic discharge

著者 (7件)： Lou Shichao (Department of Electronic and Information Engineering, Guizhou Normal University, Guiyang 550001, China) ,  Ruan Fangming (Department of Electronic and Information Engineering, Guizhou Normal University, Guiyang 550001, China) ,  Su Ming (Department of Electronic and Information Engineering, Guizhou Normal University, Guiyang 550001, China) ,  Wang Tuo (Key Laboratory of Information and Computing Science of Guizhou Province, Guizhou Normal University, Guiyang 550001, China) ,  Wang Heng (Department of Electronic and Information Engineering, Guizhou Normal University, Guiyang 550001, China) ,  Xiao Wenjun (Department of Electronic and Information Engineering, Guizhou Normal University, Guiyang 550001, China) ,  Zhi Qijun (Department of Electronic and Information Engineering, Guizhou Normal University, Guiyang 550001, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ASID  ページ： 83-85  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 非接触静電放電(ESD)は多くの状況で広く行われ,軍事兵器,工業製品,航空宇宙機の,日常生活者であった。小ギャップをもつ非接触静電放電における放電電流パルスはナノ秒の上昇時間を持ち,広帯域擾乱を作成し,深刻な脅威をもたらしたまたはマイクロエレクトロニクスシステムと電子製品への損傷も可能性がある。新しい静電放電試験システムを設計し,異なるギャップを持つ静電放電を試験した,放電結果に及ぼすそれらの強い影響を研究した。ギャップ測定の設計は新しいESD試験システムのために提案した。モジュールに基づいて提案された試験データは,PLCに送付し,位置と比較した。各放電ギャップに対応する放電電流を同時に測定し,分析し,非接触ESD特性の定量的研究を改善することを目的とした。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 広帯域 ,  放電ギャップ ,  パルス ,  *計測システム ,  工業製品 ,  *放電 ,  ナノ秒 ,  兵器
準シソーラス用語： 放電電流 ,  日常生活 ,  検知システム ,  *静電気放電 ,  *非接触 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (9件)： AD・DA変換回路  (NC05080M) ,  梁,桁  (HD03020H) ,  トランジスタ  (NC03070N) ,  宇宙通信  (ND08040S) ,  技術教育  (NA01040M) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス材料  (NC03020K) ,  材料試験  (HB02020U)

タイトルに関連する用語 (6件)： 非接触 ,  静電放電 ,  測定システム ,  ギャップ ,  検出システム ,  設計