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J-GLOBAL ID:201702288356645896   整理番号:17A0354991

IEC 61850サーバの一貫性閉ループ試験システムの設計と実現(2)ED2.0と国内拡張応用【JST・京大機械翻訳】

Design and Implementation of Closed-loop Conformance Testing System for IEC 61850 Server Part TwoEd 2.0 and Extended Application in China
著者 (6件):
資料名:
巻: 40  号: 24  ページ: 157-163  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2510A  ISSN: 1000-1026  CODEN: DXZIE9  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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現在 2.0と国内の拡張応用のテストケースを不可欠である 2.0と国内の拡張試験のために,エージェント 2.0と国内の拡張応用のための試験事例を実現するために開発した。テストケースの詳細な設計過程を説明した。インテリジェント電子装置(IED)との試験により,このシステムがED2.0と国内応用の試験スクリプトを正しく解析,実行でき,試験システムの汎用性と汎用性を向上させることを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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変電 

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