特許
J-GLOBAL ID：201703017946211000
分光放射計を校正するための方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
アインゼル・フェリックス=ラインハルト
, 森田 拓
, 前川 純一
, 二宮 浩康
, 上島 類
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-529280
公開番号（公開出願番号）：特表2017-536552
出願日： 2015年12月01日
公開日（公表日）： 2017年12月07日
要約：
本発明は、分光放射計(1)を校正するための方法に関し、この方法は、校正すべき分光放射計(1)を用いて少なくとも1つの標準光源(4)の放射を測定することによって、光測定データを記録するステップと、記録された光測定データを、標準光源(4)の既知のデータと比較することによって、光測定データから校正データを導出するステップと、校正データにしたがって、分光放射計(1)を校正するステップと、を有している。本発明の課題は、分光放射計(1)を校正するための確実で実用的な方法を提供することである。特に、簡単かつ確実なやり方で、種々の位置(9、10、11)に設けられている分光放射計(1)の同期が確立されるべきである。このために本発明は、標準光源の有効性を、すなわち校正のために標準光源を使用できるかを以下のことによって検査することを提案する。すなわち、標準光源(4)の光測定データを、同種の1つまたは複数の別の標準光源(4)の光測定データと比較し、その際に、標準光源(4)の光測定データの相互の偏差が所定の限界値を下回る場合には、標準光源(4)の有効性を確認する、および/または、標準光源(4)を、同種のまたは異種の2つ以上の標準分光放射計(1’)を用いて測定し、その際に、異なる標準分光放射計(1’)を用いて記録された光測定データの相互の偏差が所定の限界値を下回る場合には、標準光源(4)の有効性を確認する、ことによって、検査することを提案する。
請求項（抜粋）：
分光放射計(1)を校正するための方法であって、
-校正すべき前記分光放射計(1)を用いて少なくとも1つの標準光源(4)の放射を測定することによって、光測定データを記録するステップと、
-記録された前記光測定データを、前記標準光源(4)の既知のデータと比較することによって、前記光測定データから校正データを導出するステップと、
-前記校正データにしたがって、前記分光放射計(1)を校正するステップと、
を有している方法において、
前記標準光源(4)の有効性を、すなわち前記校正のために前記標準光源(4)を使用できるかを、
-前記標準光源(4)の前記光測定データを、同種の1つまたは複数の別の標準光源(4)の光測定データと比較し、その際に、前記標準光源(4)の光測定データの相互の偏差が所定の限界値を下回る場合には、前記標準光源(4)の有効性を確認する、および/または、
-前記標準光源(4)を、同種のまたは異種の2つ以上の標準分光放射計(1’)を用いて測定し、その際に、異なる前記標準分光放射計(1’)を用いて記録された前記光測定データの相互の偏差が所定の限界値を下回る場合には、前記標準光源(4)の有効性を確認する、
ことによって検査することを特徴とする方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G020CB23
, 2G020CB26
, 2G020CB31
, 2G020CC02
, 2G020CC63
, 2G020CD38
, 2G020CD39
