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J-GLOBAL ID：201802243933369085   整理番号：18A0644478

BES III主ドリフト室内のアップグレードMAPSチッププローブ試験システムの設計【JST・京大機械翻訳】

Probe Testing System of MAPS Chips for the BES III Inner Drift Chamber Upgrade

著者 (5件)： Zhou Chuanxing (核探測与核電子学国家重点実験室,北京100049;中国科学院高能物理研究所,北京100049;中国科学院大学,北京100049) ,  Dong Mingyi (核探測与核電子学国家重点実験室,北京100049;中国科学院高能物理研究所,北京100049;中国科学院大学,北京100049) ,  Ju Xudong (核探測与核電子学国家重点実験室,北京100049;中国科学院高能物理研究所,北京100049) ,  Dong Jing (核探測与核電子学国家重点実験室,北京100049;中国科学院高能物理研究所,北京100049) ,  Ouyang Qun (核探測与核電子学国家重点実験室,北京100049;中国科学院高能物理研究所,北京100049;中国科学院大学,北京100049)
資料名： Hedianzixue yu Tance Jishu  (Hedianzixue yu Tance Jishu)
巻： 37  号： 3  ページ： 225-230  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2038A  ISSN： 0258-0934  CODEN： HDYUEC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 北京の分光計IIIの主要なドリフト室の屋内のアップグレードMAPSチップの試験要求を満たすために、チップ機能検査のためのチップ・プローブ・テストシステムを設計した。このシステムは,JTAG通信,チップ電力消費,画素クランプ電圧,読み出しデータなどのチップの機能検査を実現し,チップ雑音レベルと識別器閾値スキャンなどの予備試験を行うことができる。チップのプローブテストは非決定的な状況下でチップのスクリーニングを完成させるだけでなく、同時に後続チップが検出器上で動作する時の閾値などのパラメータの配置に参考を提供することができる。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： クランプ ,  分光計 ,  弁別器 ,  通信 ,  *プローブ ,  電力消費 ,  雑音指数 ,  画素 ,  検出器 ,  *ドリフト ,  電圧 ,  走査 ,  ジェイタグ ,  *検査システム

著者キーワード (4件)： monolithic active pixel sensor ,  Si pixel detector ,  probe card ,  chip probe station test

分類 (5件)： データ保護  (JD01020V) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  冷房  (PC02030Q) ,  計算機シミュレーション  (JE11000H) ,  導波管,同軸線路  (NC04040N)

タイトルに関連する用語 (6件)： ドリフト ,  アップグレード ,  MAPs ,  プローブ ,  試験システム ,  設計