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J-GLOBAL ID:201802283071318924   整理番号:18A0190012

IJTAG帯域幅の拡大と並列同期SIBによるセキュリティの管理【Powered by NICT】

Increasing IJTAG bandwidth and managing security through parallel locking-SIBs
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: ITC  ページ: 1-10  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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試験,デバッギング,モニタリング集積回路(IC)に必要なオンチップに埋め込まれた機器の数は劇的に増加した。IEEE1687(IJTAG)標準は,セグメント挿入ビット(SIB)を用いてスキャンチェーンの動的再構成によるこれらの埋込み装置への効率的アクセスを可能にする。残念なことに,試験データを連続的にスキャンパスを介してシフトすると大きな量試験データと試験モードの間にいくつかのアクセスを必要とする機器はまだ長い試験時間をもたらした。埋設計器へのアクセス高帯域幅を提供するために,試験時間を大きく削減できることがSIBベース並列IJTAGネットワークアーキテクチャについて述べた。SIBプログラミングアクセス時間オーバーヘッドは対応する連続ネットワークと同等であった。並列SIB(P SIBs)と並列IJTAGネットワークのセキュリティ含意を実行する様々な方法を調べた。スキャンパスの増加した帯域幅にもかかわらず,同期SIBにより提供されるセキュリティは並列ネットワークを維持できることを示した。例えば,十分な鍵サイズの同期並列SIBに成功したランダム力ずく攻撃のための時間の予想される量は12,000年以上である。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
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