文献
J-GLOBAL ID：200902134327780407   整理番号：94A0223374

量子井戸構造におけるフリーキャリアによる誘電率の解析

Free Carrier Contribution on Dielectric Properties in Quantum Well Structures.
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著者 (1件)：
富田章久

富田章久 について

(日本電気 光エレクトロニクス研)

日本電気 光エレクトロニクス研 について


資料名：
応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)

応用物理学会学術講演会講演予稿集 について


巻： 54th  号： 3  ページ： 1274  発行年： 1993年09月 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
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量子井戸

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キャリア

キャリア について

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誘電率

誘電率 について

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解析

解析 について


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