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J-GLOBAL ID：200902217220699600   整理番号：08A1191507

微小部全反射蛍光X線分析法による同一基板上複数試料の迅速分析

著者 (2件)： 川又誠也 (大阪市大 大学院) ,  辻幸一 (大阪市大 大学院)
資料名： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
巻： 44th  ページ： 85-86  発行年： 2008年10月10日 
JST資料番号： S0881A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *蛍光X線分析 ,  全反射 ,  同時分析 ,  *元素分析 ,  迅速分析

分類 (1件)： その他の物質の物理分析  (CC03100M)

タイトルに関連する用語 (4件)： 微小 ,  全反射蛍光X線分析 ,  試料 ,  迅速分析