文献

J-GLOBAL ID：200902226274975296   整理番号：08A1191509

微小部斜出射蛍光X線分析法を用いた深さ方向分析

著者 (3件)： 福岡慎太郎 (大阪市大 大学院) ,  粟根徹 (大阪市大 大学院) ,  辻幸一 (大阪市大 大学院)
資料名： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
巻： 44th  ページ： 89-90  発行年： 2008年10月10日 
JST資料番号： S0881A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *蛍光X線分析 ,  深さプロフィル ,  *深さ分析 ,  すれすれ入射 ,  葉

分類 (2件)： 有機物質中の元素の物理分析  (CC03032S) ,  植物の生化学  (EH01050J)

タイトルに関連する用語 (4件)： 微小 ,  蛍光X線分析法 ,  深さ方向 ,  分析