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J-GLOBAL ID：200902246554070575   整理番号：09A0885372

X線光電子分光による混合原子価Tm₅Si₂Ge₂のTmイオンの価数評価

著者 (6件)： 味谷祐幸 (信州大 大学院) ,  味谷祐幸 (岡崎国立共同研究機構 分子科研) ,  宮崎秀俊 (岡崎国立共同研究機構 分子科研) ,  KWON Y. S. (韓国成均大 物理) ,  木村真一 (岡崎国立共同研究機構 分子科研) ,  木村真一 (総研大 物理)
資料名： 日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)
巻： 64  号： 2 第3分冊  ページ： 435  発行年： 2009年08月18日 
JST資料番号： S0671B  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *混合原子価化合物 ,  金属間化合物 ,  *ツリウム合金 ,  ケイ素含有合金 ,  ゲルマニウム含有合金 ,  混合原子価 ,  内殻電子 ,  *ツリウム ,  磁気モーメント ,  *X線光電子スペクトル

分類 (1件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (6件)： X線光電子分光 ,  混合原子価 ,  Tm ,  イオン ,  価数 ,  評価