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J-GLOBAL ID：200902272707912237   整理番号：08A0950632

ゲートモードアバランシェフォトダイオード光子検出器のアフターパルスモデル

著者 (6件)： 富田章久 (JST量子情報システムアーキテクチャ) ,  富田章久 (NEC ナノエレクトロニクス研) ,  中田武志 (NEC ナノエレクトロニクス研) ,  水木恵美子 (NEC ナノエレクトロニクス研) ,  高橋成五 (NEC システムプラットフォーム研) ,  牧田紀久夫 (NEC ナノエレクトロニクス研)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2008  号： エレクトロニクスソサイエティ 1  ページ： 218  発行年： 2008年09月02日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： アバランシェフォトダイオード(APD)を用いた光子検出器は量子暗号鍵配布などへの応用に向けて研究開発が進められている。長波長帯に感度のあるInGaAs系APDではダークカウントを減らすために光子到達時間に合わせてAPDにブレークダウン電圧以上のパルスを印加するいわゆるゲートモードが使われている。ところが,APDには光子検出後にゲートパルスを印加すると光子がなくてもブレークダウンして光子を誤検出するアフターパルスという現象があり,これが光子検出レートを制限している。アフターパルスの原因は増倍層内の欠陥にトラップされたキャリアが時間をおいて放出されるためだとされている。その場合,アフターパルス確率は時間に対して指数関数的に減少するはずである。しかし,最近,中田らはInAlAsを増倍層とするAPDのアフターパルス確率をゲート間隔16ns~1μsにわたって測定し,アフターパルス確率がむしろ時間に反比例する結果を得た。この結果を説明するために増倍層内のキャリア数がゲートパルスの切れた後にどのように変化するかを検討した。トラップ数が有限であることを考慮したモデルを用いるとパラメータを調整することにより実験結果をよく再現することができた。(著者抄録)

シソーラス用語： *アバランシェフォトダイオード ,  *光子 ,  パルス ,  ゲート【半導体】 ,  パラメタリゼーション ,  実験 ,  *光検出器 ,  *光通信 ,  *光子検出器 ,  評価実験 ,  電子トラップ
準シソーラス用語： アフターパルス ,  トラップ【固体】 ,  検出率

分類 (3件)： 半導体レーザ  (BD04070L) ,  その他の光伝送素子  (BD06040S) ,  光通信方式・機器  (ND10000B)

タイトルに関連する用語 (1件)： 光子検出器