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J-GLOBAL ID：201002202863687467   整理番号：10A0372294

アモルファスアルミノシリケート薄膜におけるプロトン伝導度の組成依存性

著者 (3件)： 原田明寿 (北大 大学院) ,  青木芳尚 (北大 大学院) ,  幅崎浩樹 (北大 大学院)
資料名： 電気化学会大会講演要旨集
巻： 77th  ページ： 457  発行年： 2010年03月26日 
JST資料番号： Y0048A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 非晶質 ,  *アルミノケイ酸塩 ,  *薄膜 ,  *プロトン伝導 ,  *導体 ,  *電気伝導率 ,  薄膜成長 ,  加水分解 ,  化学合成 ,  走査電子顕微鏡 ,  透過型電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  電気化学インピーダンス ,  エネルギー分散蛍光X線分析 ,  X線光電子スペクトル ,  XANES ,  表面構造 ,  *イオン伝導体 ,  構造
準シソーラス用語： EDX分析

分類 (3件)： 塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  電極過程  (CB07040U) ,  混合伝導  (BM03060U)

タイトルに関連する用語 (5件)： アモルファス ,  アルミノシリケート ,  薄膜 ,  プロトン伝導度 ,  組成依存性