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J-GLOBAL ID:201102276229409730   整理番号:11A0581891

電子機器用ガラス廃棄時における有害元素の長期浸出評価

著者 (7件):
資料名:
巻: 2008  ページ: ROMBUNNO.53  発行年: 2008年 
JST資料番号: X0280B  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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廃電子機器の有害廃棄物,とくに電子管由来のガラスカレットに含まれるPbをはじめとする有害成分の影響が懸念されている。ここでは,廃棄物処理場や再利用を想定した土壌環境,建材等の暴露環境条件において,ガラスからの浸出加速模擬試験を行い,長期耐水性を評価する方法の検討を行った。また,その試験結果をもとに環境中への拡散モデルを構築し,一般環境中への拡散量の定量化を試みた。暴露・リスク評価手法により,有害元素を含むガラス,特にブラウン管等の鉛ガラスの適切な処分方法について提言を行った。
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分類 (1件):
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廃棄物処理一般 

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