特許
J-GLOBAL ID：201103056732008186
生体試料標識物および生体物質標識法および生体物質の検査法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
小林 浩
, 片山 英二
, 藤田 尚
, 鈴木 康仁
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-372938
公開番号（公開出願番号）：特開2006-153826
特許番号：特許第4637565号
出願日： 2004年12月24日
公開日（公表日）： 2006年06月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 少なくとも2種の遷移金属元素または半導体元素の合金で構成された所定のサイズの複数のインデクシング粒子であって、その表面にプローブを結合させたインデクシング粒子と、該プローブに結合しうる生体物質であって、標識粒子を結合させた生体物質とを接触させる工程、
基板上に前記工程からの前記複数のインデクシング粒子を固定する工程、
前記基板上を電子線で走査して得られる2次電子から前記インデクシング粒子の電子線走査画像を得るとともに、前記標識粒子の電子線走査画像を得る工程、
前記基板上に固定した前記複数のインデクシング粒子を電子線で走査して得られる、前記インデクシング粒子の組成元素に応じた特異的な波長のX線から元素分析像を得る工程、および
前記電子線走査画像と前記元素分析像を対比して前記複数のインデクシング粒子の元素の組成と位置を特定する工程を含み、
前記標識粒子の電子線走査画像から計数される前記標識粒子の量と、前記特定されたインデクシング粒子の組成および位置と対応させ、前記生体物質の量および種類を検出する、生体物質の検査法。
IPC (4件)：
G01N 23/225 ( 200 6.01)
, G01N 33/53 ( 200 6.01)
, G01N 33/543 ( 200 6.01)
, H01L 29/06 ( 200 6.01)
G01N 23/225
, G01N 33/53 D
, G01N 33/53 M
, G01N 33/543 525 C
, G01N 33/543 541 Z
, H01L 29/06 601 N
