特許

J-GLOBAL ID：201103069244048882

微粒子計測装置及び微粒子計測方法

発明者： 安田 賢二 ,  武田 一男 ,  平岩 篤 ,  伊藤 嘉敏 ,  須田 匡
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立電子エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 和泉 良彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-025131
公開番号（公開出願番号）：特開平6-241977
特許番号：特許第3205413号
出願日： 1993年02月15日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
請求項（抜粋）：

【請求項1】微粒子を含む溶液を流す流路と、上記流路に取り付け溶液中の微粒子を濃縮する超音波振動子と、濃縮された微粒子に光を照射するための光学手段と、微粒子からの光を検出する光検出器と、を有することを特徴とする微粒子計測装置。

IPC (3件)：

G01N 15/06 ,  G01N 15/02 ,  G01N 15/14

FI (4件)：

G01N 15/06 C ,  G01N 15/06 E ,  G01N 15/02 A ,  G01N 15/14 A

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭57-131036
  
• 粒子濃度測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-164214   出願人：株式会社日立製作所
• 特開昭62-225928
  
• 特開平4-138336
  
• 特開平3-122548