特許

J-GLOBAL ID：201103081152130159

遺伝子検査方法

発明者： 永井 啓一 ,  岡野 和宣 ,  野田 英之 ,  松永 浩子 ,  谷口 妃代美 ,  矢澤 義昭 ,  梶山 智晴
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 平木 祐輔
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-191781
公開番号（公開出願番号）：特開2006-006274
特許番号：特許第4122317号
出願日： 2004年06月29日
公開日（公表日）： 2006年01月12日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 検出すべき配列に相補的な配列を含むプローブを表面に固定した支持体に対し、5’末端にアンカー配列を有する試料核酸をハイブリダイズさせる工程と、 前記試料核酸を鋳型として前記プローブの相補鎖伸長反応を行う工程と、 前記相補鎖伸長反応で合成された前記プローブ伸長鎖から前記試料核酸を解離し、除去する工程と、 解離した前記プローブ伸長鎖を鋳型として、前記アンカー配列と同じ配列を有するプライマーを用いて、相補鎖伸長反応を行う工程と、 前記プライマーの伸長反応によって生じるピロリン酸を生物化学発光により検出する工程とを含む、遺伝子検査方法。

IPC (4件)：

C12Q 1/68 ( 200 6.01) ,  C12N 15/09 ( 200 6.01) ,  G01N 21/76 ( 200 6.01) ,  G01N 37/00 ( 200 6.01)

FI (4件)：

C12Q 1/68 ZNA Z ,  C12N 15/00 F ,  G01N 21/76 ,  G01N 37/00 102

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 核酸配列の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-331853   出願人：株式会社日立製作所

引用文献：

審査官引用 (1件)

• Genome Res., 2000, Vol.10, p.1249-1258