微細粒子成分分析装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (4件)：光石俊郎 , 光石忠敬 , 田中康幸 , 松元洋
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-295717
公開番号（公開出願番号）：特開2008-111757
特許番号：特許第4859626号
出願日： 2006年10月31日
公開日（公表日）： 2008年05月15日
請求項（抜粋）：

【請求項1】ガス中の微細粒子の成分を分析する微細粒子成分分析装置であって、前記ガスをサンプリングするガスサンプリング手段と、前記ガスサンプリング手段でサンプリングされた前記ガス中から目的とする粒径の前記微細粒子を分級して送出する分級手段と、前記分級手段から送出された前記微細粒子のうちの一部を蓄積すると共に、蓄積した当該微細粒子の成分を送出する濃縮手段と、前記分級手段からの前記微細粒子の成分及び前記濃縮手段からの前記微細粒子の成分を分析する分析手段と、前記分級手段からの前記微細粒子及び前記濃縮手段からの前記微細粒子の成分のいずれか一方を前記分析手段に送給するように切り換える切換手段とを備え、前記濃縮手段が、ケーシングと、前記ケーシング内に配設されて前記微細粒子を流通させるキャピラリ管と、前記キャピラリ管内に充填されて前記微細粒子を吸着する吸着剤と、前記キャピラリ管を包囲するように前記ケーシング内に配設されて光線の輻射により前記吸着剤を加熱する光線輻射ヒータと、前記キャピラリ管内にキャリアガスを流通させるキャリアガス送給手段と、前記ケーシング内の前記キャピラリ管と前記光線輻射ヒータとの間の雰囲気を更新させるように当該間に雰囲気ガスを流通させる雰囲気更新手段とを備えていることを特徴とする微細粒子成分分析装置。

IPC (6件)：

G01N 1/22 ( 200 6.01) , G01N 15/06 ( 200 6.01) , G01N 30/00 ( 200 6.01) , G01N 27/60 ( 200 6.01) , G01N 27/62 ( 200 6.01) , G01N 15/02 ( 200 6.01)

FI (10件)：

G01N 1/22 L , G01N 15/06 D , G01N 30/00 B , G01N 27/60 C , G01N 27/62 B , G01N 27/62 K , G01N 27/62 G , G01N 1/22 D , G01N 1/22 G , G01N 15/02 F

引用特許：

審査官引用 (6件)

粒子中の化学成分測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-006945 出願人：財団法人電力中央研究所
特開平4-109139
パッシブ型サンプラー及び分析方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-111584 出願人：株式会社イナックス

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