特許
J-GLOBAL ID：201303035020696466
複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
廣瀬 隆行
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-502645
特許番号：特許第5035411号
出願日： 2008年03月13日
請求項（抜粋）：
【請求項1】複数のマッハツェンダー干渉計(MZ干渉計)を含む光変調器における個々のMZ干渉計の特性を評価する方法であって,
前記MZ干渉計は,分波部と,2つのアームと,合波部と,電極とを含み,
前記2つのアームは,前記分波部と接続され,
前記合波部は,前記2つのアームと接続され,
前記電極は,前記2つのアームにバイアス電圧を印加でき,
前記電極は,前記2つのアームに変調信号を印加でき,
駆動信号を印加する工程と,バイアス電圧を掃引する工程と,出力強度を測定する工程と,特性を評価する工程とを含み,
前記駆動信号を印加する工程は,前記MZ干渉計に駆動信号を印加する工程であり;
前記バイアス電圧を掃引する工程は,前記MZ干渉計に印加されるバイアス電圧を掃引する工程であり;
前記出力強度を測定する工程は,前記バイアス電圧を掃引する工程でバイアス電圧を掃引しつつ,前記MZ干渉計からの出力強度を測定する工程であり;
前記特性を評価する工程は,
前記出力強度を測定する工程で測定されたMZ干渉計からの出力に含まれるサイドバンドの1次成分の強度S1及びn次成分の強度Snをそれぞれ測定して,二種以上のSn/S1(nは2以上の整数)を求め,
前記二種以上のSn/S1(nは2以上の整数)を含む連立方程式を解くことにより,前記MZ干渉計からの出力に含まれる0次成分を用いずに,前記MZ干渉計の特性を評価する工程である
方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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