特許

J-GLOBAL ID：201403027327408454

テストパターンの生成装置、その生成方法及びその生成プログラム

発明者： 丸地 康平 ,  酒井 政裕 ,  進 博正 ,  吉澤 晋 ,  酒井 宏隆 ,  新田 能之 ,  吉田 順陽 ,  梅村 憲弘 ,  服部 可奈子
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 特許業務法人東京国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-286636
公開番号（公開出願番号）：特開2014-130414
出願日： 2012年12月28日
公開日（公表日）： 2014年07月10日
要約：

【課題】各結線が単独で出力に伝播することの確認をすることができるテストパターンの生成技術を提供する。【解決手段】テストパターンの生成装置10において、論理ゲート、論理ブロック及びこれらを接続する結線により表現される回路表現データに含まれる回路の接続情報を保持する回路接続情報保持部18と、前記回路のロジックテストに用いるテストケースをテストDB13に登録するテスト登録部12と、前記テストケースを前記回路に入力して算出される結線値を結線値履歴15に記録する結線値算出部14と、指定した出力線に影響を与える入力線群を前記接続情報に基づいて導出し、各入力線が単独で前記出力線に伝播するか否かを前記結線値履歴に基づいて算出する結線伝播算出部21と、を備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

論理ゲート、論理ブロック及びこれらを接続する結線により表現される回路表現データに含まれる回路の接続情報を保持する回路接続情報保持部と、 前記回路のロジックテストに用いるテストケースをテストDBに登録するテスト登録部と、 前記テストケースを前記回路に入力して算出される結線値を結線値履歴に記録する結線値算出部と、 指定した出力線に影響を与える入力線群を前記接続情報に基づいて導出し、各入力線が単独で前記出力線に伝播するか否かを前記結線値履歴に基づいて算出する結線伝播算出部と、を備えることを特徴とするテストパターンの生成装置。

IPC (2件)：

G06F 17/50 ,  G01R 31/318

FI (2件)：

G06F17/50 670G ,  G01R31/28 Q

Fターム (8件)：

2G132AA01 ,  2G132AC03 ,  2G132AC11 ,  2G132AD06 ,  2G132AG14 ,  2G132AL11 ,  5B046AA08 ,  5B046JA01

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-307680
  
• 特開平4-222058
  
• 集積回路論理検証装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-111155   出願人：東芝マイクロエレクトロニクス株式会社, 株式会社東芝
• ディレイライブラリ生成装置,ディレイライブラリ生成プログラムおよびディレイライブラリ生成方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-130008   出願人：富士通株式会社