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J-GLOBAL ID：201502203460268530   整理番号：15A1286610

赤外速度干渉計による半導体-金属相転移の直接計測

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著者 (19件)： 佐野智一 (大阪大 大学院工学研究科) ,  尾崎典雅 (大阪大 大学院工学研究科) ,  尾崎典雅 (大阪大 光科セ) ,  YANG Tsung-Han (大阪大 大学院工学研究科) ,  横山尚也 (大阪大 大学院工学研究科) ,  宮西宏併 (大阪大 大学院工学研究科) ,  木村友亮 (大阪大 大学院工学研究科) ,  浅海雄人 (大阪大 大学院工学研究科) ,  浦西宏幸 (大阪大 大学院工学研究科) ,  近藤良彦 (大阪大 大学院工学研究科) ,  喜田美佳 (大阪大 大学院工学研究科) ,  池谷正太郎 (大阪大 大学院工学研究科) ,  小川剛史 (大阪大 大学院工学研究科) ,  佐藤友哉 (大阪大 大学院工学研究科) ,  佐野孝好 (大阪大 レーザーエネルギー学研究セ) ,  坂和洋一 (大阪大 レーザーエネルギー学研究セ) ,  廣瀬明夫 (大阪大 大学院工学研究科) ,  兒玉了祐 (大阪大 大学院工学研究科) ,  兒玉了祐 (大阪大 光科セ)
資料名： 大阪大学レーザーエネルギー学研究センター共同利用・共同研究成果報告書  (ILE Annual Report of Collaborative Research)
巻： 2012  ページ： 64-65  発行年： 2013年03月 
JST資料番号： J0876A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (4件)： 赤外 ,  干渉計 ,  金属相 ,  直接計測